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로이엔텍 - R&S VNA를 이용한 Material 측정 솔루션을 소개합니다 - 로데슈바르즈

로데슈바르즈_ROHDE_SCHWARZ/측정이야기

by 홍스블루스 2024. 5. 7. 09:50

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R&S VNA를 이용한 Material 측정 솔루션

Vector Network Analyzer(VNA)를 이용한 Material 측정 솔루션으로는 아래(그림1)과 같이 크게 4가지 방식을 제공하고 있습니다. 이번화에서는 Transmission / Reflection line 방식을 활용한 Material 측정의 특징과 사례를 소개해드립니다.

그림1) Vector Network Analyzer(VNA)를 이용한 Material 측정 솔루션

 

 

Transmission / Reflection line 방식은 측정하고자 하는 주파수 범위를 지원하는 VNA모델과 Coaxial cable이나 Waveguide(도파관) 타입의 전용 측정 Kit를 통해 측정할 수 있습니다. 전용 측정 KIT 사이에 삽입된 시료를 VNA를 이용해 얻어낸 reflection (S11), transmission (S21) 결과를 통해 유전율과 같은 특성으로 계산하는 방식을 사용합니다. 따라서 측정 절차는 비교적 간편하지만 보다 정확한 측정 결과를 얻어내기 위해서는 KIT와 시료 사이의 Air gap이 존재하지 않도록, 평평하고 표면이 고른 측정 시료가 요구되는 것이 특징입니다.

만약 mmWave 대역에서의 측정이 필요할 경우 VNA와 Frequency Converter 모델의 조합을 통해 측정이 가능하며 아래 링크를 통해 보다 자세한 내용을 확인하실 수 있습니다.

 

 

 

로이엔텍 - mmWave 대역에서의 Component 측정은 어떻게 가능할까요? / 로데슈바르즈

mmWave 대역에서의 Compenent 측정 ​ mmWave 대역의 연구 분야에서는 해당 대역을 지원하는 Component 개발을 위한 측정의 요구가 꾸준히 있어 왔습니다. 다만, 이를 위해서는 High-end 벡터 네트워크 분석

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R&S ZNA 와 Swissto12 MCK를 이용한 D-Band 유전율 측정 사례

아래 영상을 통해 R&S의 High-end Vector Network Analyzer 모델인 ZNA와 Frequency Converter, 그리고 Swissto12 MCK(Material Characterization KIT)를 활용한 D-Band (110G-170GHz) 유전율 측정 솔루션을 확인해보세요!

 

R&S Material 측정 솔루션

 

작성자 : 로데슈바르즈코리아 기술지원팀

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